LB-JF局部放電測(cè)試儀是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成,并滿(mǎn)足GB-7354-87、GB-1207-97、GB-1208-97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。具有靈敏度高、測(cè)試的試品范圍廣,有高頻橢圓掃描,放電系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大,并采用*抗干擾組件和*的門(mén)顯示電路,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷
LB-JF局部放電測(cè)試儀
一.概述
LB-JF局部放電測(cè)試儀是我公司繼LB型局部放電測(cè)試儀后研制開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的又一新穎儀器。它基本上保持了LB的優(yōu)點(diǎn)和功能,并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。 LB-JF局部放電測(cè)試儀是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成,并滿(mǎn)足GB-7354-87、GB-1207-97、GB-1208-97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。具有靈敏度高、測(cè)試的試品范圍廣,有高頻橢圓掃描,放電系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大,并采用*抗干擾組件和*的門(mén)顯示電路,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試,可供制造廠、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。
二、LB-JF局部放電測(cè)試儀的技術(shù)參數(shù)
1.可測(cè)試品的電容范圍:6pF-250uF
2.檢測(cè)靈敏度及允許電流(見(jiàn)表1)。
3.橢圓掃描時(shí)基
(1)頻率:50、100、150、200、400Hz。
(2)旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。
(3)工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。
(4)高頻時(shí)基橢圓可按輸入電壓(13-275V)調(diào)至正確大小。
4.顯示單元
采用100×80mm矩形示波管,有亮度與旋鈕。
5.放大器
(1)3dB低頻端頻率fL:20、40kHz任選。
(2)3dB低頻端頻率fL:200、300kHz任選。
(3)增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差20±1dB。
(4)細(xì)調(diào)范圍:>20dB。
(5)正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性:<1dB。
表1檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值
輸入單元序號(hào) | 調(diào)電容范圍 | 靈敏度(PC) (不平衡電路) | 允許電流有效值 | |
不平衡電路 | 平衡電路 | |||
1 | 6-25-100微微法 | 0.02 | 30毫安 | 0.25安 |
2 | 25-100-400微微法 | 0.04 | 60毫安 | 0.5安 |
3 | 100-400-1500微微法 | 0.06 | 120毫安 | 1安 |
4 | 400-1500-6000微微法 | 0.1 | 0.25安 | 2安 |
5 | 1500-6000-25000微微法 | 0.2 | 0.5安 | 4安 |
6 | 0.006-0.025-0.1微法 | 0.3 | 1安 | 8安 |
7 | 0.025-0.1-0.4微法 | 0.5 | 2安 | 15安 |
8 | 0.1-0.4-1.5微法 | 1 | 4安 | 30安 |
9 | 0.4-1.5-6.0微法 | 1.5 | 8安 | 60安 |
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